| 专利号 | 00104370.6 | 申请日 | 2000.03.20 |
| 名称 | 透光式布料偏移检测装置 | ||
| 公开号 | CN1267758 | 公开日 | 2000.09.27 |
| 主分类 | D05B1/18 | 次分类 | D05B1/18;G01N21/89 |
| 纺织分类 | 保护或紧固布边的线缝（波形线迹缝纫机入3/02，3/04） | 分案原申请号 | |
| 申请(专利权)人 | 大和缝纫机制造株式会 | 优先权 | 1999.3.18 JP 116955/1999 |
| 地址 | 日本大阪府 | ||
| 发明(设计)人 | 仓田博道; 正冈贵义 | 国际申请 | |
| 国际公布 | 进入国家日期 | ||
| 机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 王宏祥 |
| 介绍 | 一种透光式布料偏移检测装置，其构成是，检测受光器处于作试缝动作的被缝制布料的多个点的受光量，利用来自ＣＰＵ的反馈信号自动调整与受光器连接的可变电阻器的感度，以使该多个检测值中最大的检测值与布料偏移检测用基准值相一致。采用该结构，不需要手动操作所带来的麻烦的感度调整作业，从而在以透光量变化厉害的带有图案的布料为缝制对象的情况下也能可靠而正确地进行原来的布料偏移检测，防止拷边机在拷边时产生缝制不良的现象。 | ||
